由于以Kapton和F46 柔性材料為基底的二次表面鏡在衛(wèi)星上起著重要的熱控作用, 所以對(duì)它們直接暴露在空間那一邊的高絕緣表面的改性, 不僅要滿足防靜電積累的要求,還必須兼顧它們的光學(xué)性質(zhì), 不能因表面改性而降低它們的熱控效果. 因而對(duì)所制備的導(dǎo)電膜除了測(cè)其膜電阻外, 還進(jìn)行了光透過(guò)率和發(fā)射率的測(cè)量. 膜電阻測(cè)量按部標(biāo)QJ-2306“ 空間環(huán)境下材料表面電阻測(cè)試方法”規(guī)定的內(nèi)容進(jìn)行. 膜的透過(guò)率用P-E 紫外可見紅外分光光度計(jì)測(cè)量, 發(fā)射率用美國(guó)A E 發(fā)射計(jì)測(cè)量。
考慮到Kapton等柔性二次表面鏡在制備有抗靜電膜后, 在貯存、運(yùn)輸、衛(wèi)星總裝以及空間應(yīng)用各階段都可能造成對(duì)導(dǎo)電膜性能的影響, 因此檢驗(yàn)所制備的導(dǎo)電膜性能的穩(wěn)定性也是極為必要的. 美國(guó)GE 公司和sheldhal公司在這方面進(jìn)行了相當(dāng)細(xì)致的工作，還制定了試驗(yàn)規(guī)范. 參照他們的工作, 甚至部分試驗(yàn)還在更為苛刻的條件下完成了對(duì)新研制的導(dǎo)電膜的穩(wěn)定性評(píng)估試驗(yàn)。
通過(guò)對(duì)三種導(dǎo)電膜系的各種評(píng)價(jià)試驗(yàn), 充分表明了利用平面磁控濺射方法在優(yōu)選的工藝參數(shù)條件下, 可以制備出性能優(yōu)良的抗靜電導(dǎo)電膜. 而且電學(xué)性質(zhì)和光學(xué)性質(zhì)具佳.特別TO膜不須經(jīng)高溫后處理即可達(dá)到與ITO、IO膜相同的性能, 這一工藝研究結(jié)果對(duì)降低成本帶來(lái)了很大好處。